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菲希爾自動(dòng)化測(cè)量如何實(shí)現(xiàn)

更新時(shí)間:2022-04-05   點(diǎn)擊次數(shù):585次

菲希爾自動(dòng)化測(cè)量如何實(shí)現(xiàn)

菲希爾自動(dòng)化測(cè)量如何實(shí)現(xiàn)

FISCHERSCOPE X-射線 XDL和XDLM光譜儀與 XUL 系列密切相關(guān)。主要組件(例如探測(cè)器,X射線管和濾波器組合)是相同的,但兩者有一個(gè)顯著的區(qū)別:XDL和XDLM設(shè)備是從上到下進(jìn)行測(cè)量,這意味著可以方便地分析非平面樣品-復(fù)雜形狀不再是難題!

自上而下的測(cè)試方式還有另一個(gè)優(yōu)點(diǎn):可以很容易地實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量。 XDL240和XDLM237配備了可編程的樣品臺(tái),非常適合掃描樣品表面。 因此,您可以檢查較大部件上的鍍層厚度,或自動(dòng)逐個(gè)測(cè)量大量的小部件。

與XUL系列一樣,XDLM中的“ M"代表“微聚焦管"。 這意味著這些設(shè)備特別適合分析小樣品。 XDLM的測(cè)量點(diǎn)直徑僅為0.1毫米,非常適合電子行業(yè)。

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