菲希爾X-RAY XUV x射線(xiàn)測(cè)厚儀

菲希爾X-RAY XUV x射線(xiàn)測(cè)厚儀

菲希爾X-RAY XUV射線(xiàn)熒光測(cè)試儀 商品介紹
儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè) 器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni 的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號(hào)計(jì)數(shù)率，使儀器可以達(dá)到極小的重復(fù)精度和極低的測(cè)量下限。XUV非常適合測(cè)量極薄的鍍層和痕量分析。菲希爾測(cè)厚儀

菲希爾測(cè)厚儀采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合，能夠保證每 一次的測(cè)量都在佳的條件下完成。在測(cè)量的同時(shí)，可以直觀(guān)地查看測(cè)量點(diǎn)的影像。菲希爾測(cè)厚儀儀器測(cè)量空間寬大，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺(tái)，既適合測(cè)量平面、大型板材類(lèi)樣品，也適合形狀復(fù)雜的樣品。并且使得連續(xù)測(cè)量分析鍍層 厚度或元素分析也變得直觀(guān)而簡(jiǎn)單。儀器配有一個(gè)激光定位點(diǎn)作為輔助定位裝置，進(jìn)一步方便了 樣品的快速定位。
基于儀器的通用設(shè)計(jì)以及真空測(cè)量箱所帶來(lái)的擴(kuò)展的 測(cè)量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用 于研究和開(kāi)發(fā)，也非常適合過(guò)程控制和實(shí)驗(yàn)室使用。
射線(xiàn)熒光測(cè)試儀 商品特點(diǎn)
帶鈹窗口的微聚焦X射線(xiàn)銠管，可選鎢管和鉬管。高工作條件：
射線(xiàn)探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y(cè)器
準(zhǔn)直器：4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑0.1mm到
基本濾片：6個(gè)，可自動(dòng)切換
可編程XYZ工作臺(tái)
攝像頭用來(lái)查看基本射線(xiàn)軸向方向的測(cè)量位置?？潭染€(xiàn)經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測(cè)量點(diǎn)大小。
可在真空，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作
射線(xiàn)熒光測(cè)試儀 商品應(yīng)用
測(cè)量輕元素
測(cè)量超薄鍍層和痕量分析
常規(guī)金屬分析鑒定
非破壞式寶石分析
太陽(yáng)能光伏產(chǎn)業(yè)