fischer x熒光射線分析儀XAN252

fischer x熒光射線分析儀XAN252

菲希爾XAN252特點：
fischerscopexan252高性能機型，具有強大的綜合測量能力；
fischerscopexan252配有4 個電動調節(jié)的準直器和6個電動調節(jié)的基本慮片；
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析；
由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位。  
菲希爾測厚儀典型應用領域：
fischer測厚儀對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量；
fischer測厚儀對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量；
在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析；
用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領域。

XAN 500型X射線熒光測厚儀
產品用途
在生產過程中，實時檢測鍍層厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）
可便捷且穩(wěn)定地測量大尺寸部件，如管道、外殼或機械零件。
將儀器放置到測量箱中，XAN500即成為全功能的臺式儀器，可地測量小尺寸零件，如螺母和螺栓
還可整合到生產線的控制系統(tǒng)中，可以實現(xiàn)的質量監(jiān)控
產品特點：
手持式便攜X射線熒光儀器
為鍍層厚度測量和合金分析而優(yōu)化
3點支撐，保證每次測量時的位置準確
帶有WinFTM軟件的平板電腦 (平板電腦可單獨購買)
藍牙接口
可選的測試箱